Cauta in

 
» home  » evenimente  » despre noi  » servicii  » cariere  » parteneri  » contact 
 
  INSTRUMENTE ANALITICE

  ANALIZA DIMENSIONALA SI DE SUPRAFATA

  APARATURA NUCLEARA SI PENTRU RADIATII IONIZANTE

  CHEMICAL, BIOLOGICAL, RADIOLOGICAL AND NUCLEAR DEFENSE - CBRN

  ECHIPAMENTE MEDICALE SI CLINICE

  ANALIZOARE DE MICROBIOLOGIE CLINICA

  ANALIZOARE SPECTROMETRICE FRX

  CARUSEL

  QLARIVIA

  GENERATOARE DE GAZE DE LABORATOR


»EVENIMENTE

 

»NEWSLETTER

 


»UNITATE DE CERCETARE

 
Fisa de evaluare
Raport autoevaluare
PROPUNERI ATESTARE CCDI afisate pe 24.06.2008
 

Home » Analiza dimensionala si de suprafata » Profilometre cu stylus

  PROFILOMETRE CU STYLUS
 

Profilometrele Bruker Dektak® cu stylus sunt produsul a peste patru decade de avansari tehnologice patentate. Ele asigura repetabilitate, precizie pe diferite suprafete, de la traditionala caracterizare a rugozitatii suprafetei 2D si masuratori ale pasilor de inaltime la mapare 3D avansata si analiza de solicitare a filmului.

Profilometrele de suprafata Dektak au fost larg acceptate ca o solutie superioara pentru masuratori de grosime ale filmelor subtiri, stres, rugozitate si forma a suprafetei in aplicatii plecand de la cercetari educationale la controlul de proces in industria semiconductorilor. Cel mai recent, sistemele Dektak au fost definite ca un instrument superior de caracterizare pe piata celulelor solare si au fost adoptate de catre cei mai importanti producatori de celule solare fotovoltaice.

 
 

 

Dektak XT

» Vezi toate produsele Bruker Nano Surfaces


 

 

Dektak XTL

» Vezi toate produsele Bruker Nano Surfaces


 

Pagina:   1

   
   
  » home  » evenimente  » despre noi  » servicii  » cariere  » parteneri  » contact