Cauta in

 
» home  » evenimente  » despre noi  » servicii  » cariere  » parteneri  » contact 
 
  INSTRUMENTE ANALITICE

  ANALIZA DIMENSIONALA SI DE SUPRAFATA

  APARATURA NUCLEARA SI PENTRU RADIATII IONIZANTE

  CHEMICAL, BIOLOGICAL, RADIOLOGICAL AND NUCLEAR DEFENSE - CBRN

  ECHIPAMENTE MEDICALE SI CLINICE

  ANALIZOARE DE MICROBIOLOGIE CLINICA

  ANALIZOARE SPECTROMETRICE FRX

  CARUSEL

  QLARIVIA

  GENERATOARE DE GAZE DE LABORATOR


»EVENIMENTE

 

»NEWSLETTER

 


»UNITATE DE CERCETARE

 
Fisa de evaluare
Raport autoevaluare
PROPUNERI ATESTARE CCDI afisate pe 24.06.2008
 

Home » Analiza dimensionala si de suprafata » Profilometre cu stylus » Dektak XT

 
INSTRUMENTE ANALITICE

 
 

Dektak XT

 
 

» Producator: Bruker Nano Surfaces

» Detalii producator

» Vezi toate produsele Bruker Nano Surfaces

 

Profilometrul Bruker DektakXT™ cu stylus Profiler are un design revolutionar ce asigura o repetabilitate de 4 angstrom. Acest echipament este rezultatul a 40 de ani de inovatii ale sistemului Dektak® in care a fost lider in industrie. DektakXT asigura cele mai bune performante, usurinta de utilizare si valoare pentru a permite o monitorizare mai buna a procesului in cadrul departamentelor de Cercetare/Dezvoltare si Control al Calitatii. Descoperirile tehnologice incorporate in Dektak permit masuratori critice de suprafata la nivel nanometric pentru cercetari in microelectronica, semiconductori, celule solare, LED de inalta luminozitate, medicale si industria stiintei materialelor.


 

» Mai multe detalii despre produs

 
 

» RECOMANDARI

 
 

AFM Dimension Icon
Bruker Nano Surfaces

Contour Elite K
Bruker Nano Surfaces

Dektak XT
Bruker Nano Surfaces

 

   
   
  » home  » evenimente  » despre noi  » servicii  » cariere  » parteneri  » contact